Revistes Catalanes amb Accés Obert (RACO)

L'Espectrometria de masses aplicada a la caracterització de materials

Josep Rivera Aranda, X. Huguet, M. Guerra, Albert Figueras, F. Guillena, Francesc Ventura i Amat, Ignasi Espadaler, Josep Caixach Gamisans

Resum


En aquest article hom pretén revisar en primer lloc, els
principis de funcionament d'un espectròmetre de masses així com els principals desenvolupaments experimentals que aquesta tècnica ha assolit en l'actualitat.

Per aquesta raó hom discutirà sobre diferents fonts d'ionització tant clàssiques (impacte electrònic, ionització química...) com d'altres dissenyades per a analitzar materials no volàtils. El concepte d'espectròmetre de doble enfocament també serà
revisat. Hom introduirà els principis bàsics que permeten
d'obtenir les anàlisi SIMS (Secondary Ion Mass Spectrometry) i els anomenats "ion imaging". Ha merescut una atenció especial la disposició FAB-CAD-MIKES (Fast Atom Bombardment Collission Activated Decay- Mass Analysed Ion Kinetic Energy Spectrometry). També seran presentades algunes experiències realitzades amb
aquestes tècniques.

Text complet: PDF